Oh S.S., Ha H.S., Lee J.H., Jo W., Yoo S.I., Yoon H.R., Kim K.H., Choi M.R., Kim T.Y., Kang Y.M., Oh Y.S.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, buffer layers, PLD process, substrate LaAlO3, substrate Ni alloy, comparison, fabrication, microstructure
Ключевые слова: HTS, coated conductors, buffer layers, films, substrate LaAlO3, substrate metallic, microstructure, fabrication
Choi M., Agranovski I.E.(i.agranovski@griffith.edu.au), Altman I.S., Ilyushechkin A.Y., Bostrom T.E.
Choi M., Iluyshechkin A., Agranovski I.E.(i.agranovski@griffith.edu.au), Altman I.S., Racha N.
Ключевые слова: HTS, Bi2212, films thick, fabrication, nanodoping, grain alignment, substrate Ag, Jc/B curves, temperature dependence, microstructure, critical caracteristics
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, assembled conductors, insulating medium, ac losses, shielding effects, experimental results
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.